Secondary ion mass spectrometry (Sims x): Proceedings of the Tenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Universty of Muenster, Muenster, Germany, October 1-6th, 1995/

Detaylı Bibliyografya
Müşterek Yazar: International Conference on Secondary Ion Mass Spectometry (10.: Muenster:
Diğer Yazarlar: Benninghoven, A., Hagenhoff, B., Werner, H.W.
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Chichester: John Wiley, 1997.

Menteşe Kütüphanesi

Detaylı Erişim Bilgileri Menteşe Kütüphanesi
Yer Numarası: QD96.S43 SEC 1997
Kopya Bilgisi Kütüphanede