Значок книги

Semiconductor material and device characterization /

Библиографические подробности
Главный автор: Schroder, Dieter K.
Формат: ‌
Язык:English
Опубликовано: New York : Wiley, 1998.
Редактирование:2. bs.
Предметы:
Semiconductors.
Semiconductors > Testing.
Yarı iletkenler
Yarı iletkenler > Test etme.

Menteşe Kütüphanesi

Подробно о фондах из Menteşe Kütüphanesi
Шифр: QC611 SCH 1998
Копировать 1 Доступно

Схожие документы