APA Alıntı

Schroder, D. K. (1998). Semiconductor material and device characterization (2. bs.). New York: Wiley.

Chicago Stili Alıntı

Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 2. bs. New York: Wiley, 1998.

MLA Alıntı

Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 2. bs. New York: Wiley, 1998.

Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..