Semiconductor material and device characterization /

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Schroder, Dieter K.
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: New York : Wiley, 1998.
Edisyon:2. bs.
Konular:
LEADER 01063cam a22003011 4500
001 51620
008 971216s1998 nyua b 001 0 eng
020 |a 0471241393 (cloth : alk. paper) 
020 |a 9780471241393 (cloth : alk. paper) 
040 |a TRMEMSKU 
049 |a TR7VH 
050 0 0 |a QC611  |b SCH 1998 
082 0 0 |a 621.3815/2  |2 21 
100 1 |a Schroder, Dieter K.  |9 205894 
245 0 0 |a Semiconductor material and device characterization /  |c Dieter K. Schroder. 
250 |a 2. bs. 
260 |a New York :  |b Wiley,  |c 1998. 
300 |a xxiv, 760 s. :  |b res. ;  |c 25 cm. 
500 |a "A Wiley-Interscience publication." 
504 |a Bibliyografya ve dizin var. 
650 0 |a Semiconductors.  |9 38073 
650 0 |a Semiconductors  |x Testing.  |9 205895 
650 4 |a Yarı iletkenler  |9 149429 
650 4 |a Yarı iletkenler  |x Test etme.  |9 205896 
994 |a C0  |b TR7VH 
942 |2 lcc 
999 |c 44050  |d 44050 
952 |0 0  |1 0  |2 lcc  |4 0  |5 0  |6 QC0611 S C H1998  |7 0  |9 65665  |a MK  |b MK  |c MK  |d 2007-06-11  |e S  |l 8  |o QC611 SCH 1998  |p 0085779  |r 2019-03-19  |s 2019-02-18  |t 1  |w 2007-06-11  |y KT