Semiconductor material and device characterization /
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York :
Wiley,
1998.
|
| Редактирование: | 2. bs. |
| Предметы: |
| Примечание: | "A Wiley-Interscience publication." |
|---|---|
| Объем: | xxiv, 760 s. : res. ; 25 cm. |
| Библиография: | Bibliyografya ve dizin var. |
| ISBN: | 0471241393 (cloth : alk. paper) 9780471241393 (cloth : alk. paper) |