Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
Главный автор: | Reimer,Ludwig |
---|---|
Формат: | |
Язык: | English |
Опубликовано: |
Berlin:
Springer,
1998.
|
Редактирование: | 2nd completely rev. ed. |
Предметы: |
Схожие документы
-
Scanning and transmission electron microscopy/
по: Flegler, Stanley L.
Опубликовано: (1993) -
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
Опубликовано: (1992) -
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
Опубликовано: (1997) -
Electron microscpy and analysis/
по: Goodhew, Peter J.
Опубликовано: (2001) -
Electron microprebe analysis and scanning electron microscopy in geology.
по: Reed, S.J.B.
Опубликовано: (1996)