İçeriği atla
Toggle navigation
VuFind
Dil
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Electron microscpy and analysi...
Erişim Bilgileri
Alıntıla
E-posta Gönder
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Electron microscpy and analysis/
Detaylı Bibliyografya
Yazar:
Goodhew, Peter J.
Diğer Yazarlar:
Humphrey, John.
,
Beanland, Richard.
Materyal Türü:
Kitap
Dil:
English
Baskı/Yayın Bilgisi:
Londra:
Taylor & Francis,
2001.
Konular:
ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Menteşe Kütüphanesi
Detaylı Erişim Bilgileri Menteşe Kütüphanesi
Yer Numarası:
QH212.E4 GOO 2001
Kopya Bilgisi
Kütüphanede
Benzer Materyaller
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
Baskı/Yayın Bilgisi: (1997)
Scanning and transmission electron microscopy/
Yazar:: Flegler, Stanley L.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1993)
Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
Yazar:: Reimer,Ludwig
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
Baskı/Yayın Bilgisi: (1992)
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials/
Yazar:: Brent,Fultz
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)
×
Yüklüyor......