Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
المؤلف الرئيسي: | Reimer,Ludwig |
---|---|
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
Berlin:
Springer,
1998.
|
الطبعة: | 2nd completely rev. ed. |
الموضوعات: |
مواد مشابهة
-
Scanning and transmission electron microscopy/
بواسطة: Flegler, Stanley L.
منشور في: (1993) -
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
منشور في: (1992) -
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
منشور في: (1997) -
Electron microscpy and analysis/
بواسطة: Goodhew, Peter J.
منشور في: (2001) -
Electron microprebe analysis and scanning electron microscopy in geology.
بواسطة: Reed, S.J.B.
منشور في: (1996)