تخطي إلى المحتوى
Toggle navigation
VuFind
اللغة
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الطلب
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Scanning electron microscopy:
الوصف
استشهد بهذا
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Reimer,Ludwig
التنسيق:
كتاب
اللغة:
English
منشور في:
Berlin:
Springer,
1998.
الطبعة:
2nd completely rev. ed.
الموضوعات:
TARAYICI ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
الوصف
وصف المادة:
Dizin var.
وصف مادي:
527 s.; 24 cm.
ردمك:
3540639764
مواد مشابهة
Scanning and transmission electron microscopy/
بواسطة: Flegler, Stanley L.
منشور في: (1993)
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
منشور في: (1992)
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
منشور في: (1997)
Electron microscpy and analysis/
بواسطة: Goodhew, Peter J.
منشور في: (2001)
Electron microprebe analysis and scanning electron microscopy in geology.
بواسطة: Reed, S.J.B.
منشور في: (1996)
×
تحميل...