Пропуск в контексте
Toggle navigation
VuFind
Язык
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Electron backscatter diffracti...
Фонды
Цитировать
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Electron backscatter diffraction in materials science/
Библиографические подробности
Другие авторы:
Schwartz,Adam J.,ed.
,
Kumar,Mukul,ed.
,
Adams,Brent L.,ed.
Формат:
Язык:
English
Опубликовано:
Dordrecht:
Kluwer Academic,
2000.
Предметы:
MALZEMELER-MİKROSKOPİ
TARATICI ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
KRİSTALLOGRAFİ
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Menteşe Kütüphanesi
Подробно о фондах из Menteşe Kütüphanesi
Шифр:
TA417.23 ELE 2000
Копировать
Доступно
Схожие документы
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials/
по: Brent,Fultz
Опубликовано: (2001)
Microstructural characterization of materials /
по: Brandon, D. G.
Опубликовано: (2008)
Fundamentals of crystallography/
Опубликовано: (2000)
Scanning and transmission electron microscopy/
по: Flegler, Stanley L.
Опубликовано: (1993)
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
Опубликовано: (1997)
×
Загрузка...