Пропуск в контексте
Toggle navigation
VuFind
Язык
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Optical characterization of ep...
Фонды
Цитировать
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Optical characterization of epitaxial semiconductor layers/
Библиографические подробности
Другие авторы:
Bauer,Günther,ed.
,
Richter,Wolfgang,ed.
Формат:
Язык:
English
Опубликовано:
Berlin:
Springer,
1996.
Предметы:
EPİTAKSİ
KRİSTAL GELİŞMESİ
YARI İLETKENLER
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Menteşe Kütüphanesi
Подробно о фондах из Menteşe Kütüphanesi
Шифр:
QC611.O6 OPT 1996
Копировать
Доступно
Схожие документы
Semiconductor physics.
по: Seeger, K.
Опубликовано: (1997)
Optical characterization of semiconductors/
Опубликовано: (1992)
Semiconductor physics and applications/
по: Balkanski, Minko
Опубликовано: (2000)
An Introduction to the physics of semiconductor devices/
Опубликовано: (1999)
GeSi strained layers and their applications/
Опубликовано: (1995)
×
Загрузка...