Diğer Bilgiler: Secondary ion mass spectrometry (Sims x):

Kapak Resmi

QR Kod

Secondary ion mass spectrometry (Sims x): Proceedings of the Tenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Universty of Muenster, Muenster, Germany, October 1-6th, 1995/

Detaylı Bibliyografya
Müşterek Yazar:	International Conference on Secondary Ion Mass Spectometry (10.: Muenster:
Diğer Yazarlar:	Benninghoven, A., Hagenhoff, B., Werner, H.W.
Materyal Türü:	Kitap
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	Chichester: John Wiley, 1997.

Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:	Dizin var.
Fiziksel Özellikler:	1057 s.; 24 cm.
Bibliyografya:	Bibliyografya var.
ISBN:	0471958972