Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
| Weitere Verfasser: | |
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| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York:
Plenum Press,
1992.
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| Schlagworte: |
| Beschreibung: | Dizin var. |
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| Beschreibung: | 820 s.; 26 cm. |
| Bibliographie: | Bibliyografya var. |
| ISBN: | 0306441756 |