Пропуск в контексте
Toggle navigation
VuFind
Язык
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Electron microscopy:
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
Библиографические подробности
Другие авторы:
Amelinckx, S., ed.
Формат:
Язык:
English
Опубликовано:
Weinheim:
VCH,
1997.
Предметы:
ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Описание
Примечание:
Dizin var.
Объем:
515 s.; 24 cm.
Библиография:
Bibliyografya var.
ISBN:
3527294791
Схожие документы
Electron microscpy and analysis/
по: Goodhew, Peter J.
Опубликовано: (2001)
Scanning and transmission electron microscopy/
по: Flegler, Stanley L.
Опубликовано: (1993)
Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
по: Reimer,Ludwig
Опубликовано: (1998)
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
Опубликовано: (1992)
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials/
по: Brent,Fultz
Опубликовано: (2001)
×
Загрузка...