Пропуск в контексте
Toggle navigation
VuFind
Язык
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Semiconductor characterization...
Цитировать
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Semiconductor characterization: present status and future needs/
Библиографические подробности
Другие авторы:
Bullis, W. Murray, 1930-
,
Seiler, David G.
,
Diebold, A. C.
Формат:
Язык:
English
Опубликовано:
Woodbury, N.Y.:
American Institute of Physics Press,
1996.
Предметы:
Semiconductors
>
Characterization
>
Congresses.
Semiconductors
>
Design and construction
>
Congresses.
Yarı iletkenler
>
Niteleme
>
Kongreler.
Yarı iletkenler
>
Tasarım ve yapım
>
Kongreler.
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Semiconductor device fundamentals /
по: Pierret, Robert F.
Опубликовано: (1996)
An introduction to semiconductor devices /
по: Neamen, Donald A.
Опубликовано: (2006)
An introduction to semiconductor devices /
по: Neamen, Donald A.
Опубликовано: (2006)
Modern physics for semiconductor science /
по: Coleman, Charles C.
Опубликовано: (2008)
Handbook of silicon semiconductor metrology /
Опубликовано: (2001)
×
Загрузка...