Описание: Semiconductor characterization:

Библиографические подробности
Другие авторы:	Bullis, W. Murray, 1930-, Seiler, David G., Diebold, A. C.
Формат:	‌
Язык:	English
Опубликовано:	Woodbury, N.Y.: American Institute of Physics Press, 1996.
Предметы:	Semiconductors > Characterization > Congresses. Semiconductors > Design and construction > Congresses. Yarı iletkenler > Niteleme > Kongreler. Yarı iletkenler > Tasarım ve yapım > Kongreler.

Описание
Объем:	xix, 729 p. : ill. , grp. , tbl. ; 29 cm.
Библиография:	Includes bibliographical references and index.
ISBN:	1563965038 9781563965036