Epitaxy of semiconductor layered structures : symposium held November 30-December 4, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A. /
مؤلف مشترك: | Materials Research Society. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Tung, R. T., Dawson, L. R., Gunshor, Robert L. |
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
Pittsburgh, Pa. :
Materials Research Society,
c1988.
|
سلاسل: | Materials Research Society symposia proceedings ;
v. 102. |
الموضوعات: |
مواد مشابهة
-
Optical characterization of epitaxial semiconductor layers/
منشور في: (1996) -
Layered structures and interface kinetics : their technology and applications /
منشور في: (1985) -
Handbook on semiconductors: Optical properties of semiconductors /
منشور في: (1994) -
Semiconductor characterization: present status and future needs/
منشور في: (1996) -
Physiscs of semiconductor devices.
بواسطة: Sze, S.M.
منشور في: (1981)