Reimer,Ludwig. (1998). Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis (2nd completely rev. ed.). Berlin: Springer.
Chicago-стиль цитированияReimer,Ludwig. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. 2nd completely rev. ed. Berlin: Springer, 1998.
MLA-цитированиеReimer,Ludwig. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. 2nd completely rev. ed. Berlin: Springer, 1998.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.