Пропуск в контексте
Toggle navigation
VuFind
Язык
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Scanning electron microscopy a...
Фонды
Цитировать
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
Библиографические подробности
Другие авторы:
Goldstein, Joseph I.
Формат:
Язык:
English
Опубликовано:
New York:
Plenum Press,
1992.
Предметы:
TARAYICI ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
X IŞINI MİKRO ANALİZİ
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Menteşe Kütüphanesi
Подробно о фондах из Menteşe Kütüphanesi
Шифр:
QH212.S3 SCA 1992
Копировать
Доступно
Схожие документы
Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
по: Reimer,Ludwig
Опубликовано: (1998)
Scanning and transmission electron microscopy/
по: Flegler, Stanley L.
Опубликовано: (1993)
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
Опубликовано: (1997)
Electron microscpy and analysis/
по: Goodhew, Peter J.
Опубликовано: (2001)
Electron microprebe analysis and scanning electron microscopy in geology.
по: Reed, S.J.B.
Опубликовано: (1996)
×
Загрузка...