Пропуск в контексте
Toggle navigation
VuFind
Язык
English
Deutsch
Türkçe
Русский
اللغة العربية
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Scanning and transmission elec...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Scanning and transmission electron microscopy/
Библиографические подробности
Главный автор:
Flegler, Stanley L.
Другие авторы:
Heckman, John W.
,
Klomparens, Karen L.
Формат:
Язык:
English
Опубликовано:
Oxford:
Oxford University,
1993.
Предметы:
TARAYICI ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
TRANSMİSYON ELEKTRON MİKROSKOPİSİ
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Описание
Примечание:
Dizin var.
Объем:
225 s.: res.; 24 cm.
Библиография:
Bibliyografya var.
ISBN:
0195107519
Схожие документы
Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis/
по: Reimer,Ludwig
Опубликовано: (1998)
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis/
Опубликовано: (1992)
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials/
по: Brent,Fultz
Опубликовано: (2001)
Electron microscopy: Princeples and fundamentals/
Опубликовано: (1997)
Electron microscpy and analysis/
по: Goodhew, Peter J.
Опубликовано: (2001)
×
Загрузка...